Der DIK nach Smith leidet unter der Restriktion, dass die Wollaston-Prismen in den Brennebenen von Kondensor und Objektiv untergebracht werden müssen. Diese Bereiche - insbesondere die Brennebene des Objektivs - sind jedoch nur schwer zugänglich. Die aktuellen Mikroskope arbeiten deshalb überwiegend nach einem gegenüber dem Smith-Prinzip geringfügig modifizierten Verfahren, welches diese Einschränkung aufhebt.

Verläuft die optische Achse des unteren Teilprismas eines Wollaston-Prismas nicht parallel zur Eintrittsfläche, sondern zu dieser geneigt, so verändert sich der Verlauf des außerordentlichen Strahls und die maßgebliche Ebene ("Interferenzebene") der Aufspaltung beider Teilstrahlen wird aus dem Prisma herausverlagert. Dies ist beim Nomarski-Prisma, einer entsprechenden Modifikation des Wollaston-Prismas, der Fall.

	Das modifizierte Wollaston-Prisma ("Nomarski-Prisma")

Wenn Sie sich den Verlauf des außerordentlichen Strahls im unteren Teilprisma in der obigen Darstellung nicht erklären können bietet das bereits behandelte Huygens-Modell bei Doppelbrechung die notwendige Erklärung.

Durch die Verlagerung der Interferenzebene aus dem Prisma heraus kann man nun das abbildungsseitige Prisma relativ leicht so in den Strahlengang bringen, dass es senkrecht zur optischen Achse bewegt werden kann. Der Gangunterschied zwischen den beiden Teilstrahlen und der damit verbundene Kontrasteindruck lassen sich hierdurch kontinuierlich verstellen und optimieren.

	Der Strahlengang im Differentiellen Interferenzkontrast nach Nomarski

Die obige Darstellung zeigt beispielhaft das Grundprinzip eines Durchlicht-Mikroskops für den DIK nach Nomarski. Das obere Nomarski- bzw. DIK-Prisma ist senkrecht zur optischen Achse des Mikroskops beweglich und ermöglicht so die Einstellung eines optimalen "Basisgangunterschiedes" zwischen den beiden Teilstrahlen. In der Regel wird man als Basisgangunterschied etwa 150-200nm einstellen. Man befindet sich dann im Bereich des "Grauen DIK", bei dem eine Objektseite heller und die andere dunkler als der Basisgangunterschied erscheint.

	Dies ist mal wieder ein Platzhalter für ein noch einzufügendes Bild eines DIK-Mikroskops

Das DIK-Verfahren stellt an die Intensität der Beleuchtung und die Qualität der Optik hohe Anforderungen. Insbesondere müssen sämtliche im Strahlengang zwischen Polarisator und Analysator befindlichen optische Elemente frei von Spannungsdoppelbrechung sein. Dies betrifft natürlich auch die Objektive und den Kondensor.